開(kāi)放包容 交流分享 | 裕太微Technical Day-Verfication&Validation專場(chǎng)
2025-02-21
近日，裕太微電子的研發(fā)團(tuán)隊(duì)成功舉辦了一場(chǎng)聚焦DV&Emu-Vx專題的Technical Day盛會(huì)，旨在深入探索并顯著提升驗(yàn)證與測(cè)試領(lǐng)域的質(zhì)量與效率，為芯片研發(fā)工作保駕護(hù)航。
活動(dòng)中，研發(fā)團(tuán)隊(duì)的精英們積極互動(dòng)，圍繞構(gòu)建高效、健全的防控體系和方法論展開(kāi)了熱烈而富有成效的討論，并紛紛登臺(tái)，分享了他們?cè)诟髯灶I(lǐng)域的最新研究成果。具體涵蓋以下幾個(gè)核心技術(shù)和平臺(tái)：
?1. YBench基礎(chǔ)公共驗(yàn)證平臺(tái)?：該平臺(tái)以其最新的功能特性和在驗(yàn)證實(shí)踐中的卓越表現(xiàn)，贏得了廣泛關(guān)注。分享者詳細(xì)闡述了其最新功能，并深入剖析了其在提升驗(yàn)證效率與準(zhǔn)確性方面的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。
?2. Validation測(cè)試框架的平臺(tái)化設(shè)計(jì)?：分享者以獨(dú)到的視角，揭示了Validation測(cè)試框架平臺(tái)設(shè)計(jì)的精髓所在。他們探討了如何通過(guò)平臺(tái)化的策略，實(shí)現(xiàn)測(cè)試效率的大幅提升，同時(shí)增強(qiáng)測(cè)試的可復(fù)用性和可擴(kuò)展性，為測(cè)試工作注入了新的活力。
?3. 芯片開(kāi)發(fā)早期快速驗(yàn)證方法學(xué)?：結(jié)合實(shí)際項(xiàng)目案例，分享者們生動(dòng)展示了芯片開(kāi)發(fā)早期快速驗(yàn)證方法學(xué)在驗(yàn)證與測(cè)試領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用和顯著成效。他們通過(guò)具體的數(shù)據(jù)和實(shí)例，充分證明了這些方法在提升測(cè)試效率、準(zhǔn)確性和可靠性方面的巨大潛力。
?4. 后仿與FPGA平臺(tái)設(shè)計(jì)的深度探討?：此外，活動(dòng)還就后仿、FPGA平臺(tái)設(shè)計(jì)等前沿議題進(jìn)行了深入的探討和交流。與會(huì)者們紛紛發(fā)表了自己的見(jiàn)解和看法，為這些領(lǐng)域的發(fā)展貢獻(xiàn)了新的思路和方向。
本次活動(dòng)最終評(píng)選出了三名優(yōu)秀主講人，分別獲得一等獎(jiǎng)、二等獎(jiǎng)和三等獎(jiǎng)。
此次Technical Day活動(dòng)不僅極大地促進(jìn)了研發(fā)團(tuán)隊(duì)內(nèi)部的技術(shù)交流與合作，更為公司未來(lái)的芯片研發(fā)質(zhì)量保障工作提供了寶貴的經(jīng)驗(yàn)和啟示。通過(guò)這一系列精彩紛呈的分享與討論，裕太微的研發(fā)團(tuán)隊(duì)將更加自信地面對(duì)復(fù)雜的驗(yàn)證與測(cè)試挑戰(zhàn)，不斷攀登芯片研發(fā)的新高峰。
